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比表面積及微孔

微孔分析儀高精度微孔檢測(cè)

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BSD-660高性能比表面積超微孔分析

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高性能比表面積超微孔分析，◆ 寬測(cè)試范圍：比表面積0.0005㎡/g以上，孔徑0.35-500nm;◆ 高測(cè)試精度：比表面積、孔徑、孔體積、吸附量≤1%RSD（標(biāo)準(zhǔn)樣品）;◆ 程序升溫脫氣：軟件控制程序升溫，室溫-400℃，精度優(yōu)于0.1℃；
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